涂层测厚仪 GT820NF 膜厚仪 铝氧化层厚度检测

功能：

采用了涡流测厚方法，可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；

操作过程有蜂鸣声提示；

电池电压指示：低电压提示

自动关机

测量方法： NF 涡流

技术参数

测量范围：0~1250um (其他量程可定制)

分辨率：0.1/1

小曲率半径: 凸 5mm/ 凹 5mm

小测量面积：10X10mm

薄基底：0.4mm

使用环境：温度：0-40 湿度：10-85%RH

准确度：±(1.5+3%h)或±2um

公制/英制：可转换

机身尺寸：102mm×66mm×24mm

电源：2节5号电池

重量：99g（含电池）

测量时注意事项

1） 基体金属特性

对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

2） 基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。

3） 边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

4） 曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。

5） 读数次数：通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层 厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗糙时更应如此。

6） 表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

7） 磁场：周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作。

8） 测头取向：测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直。

深圳市速德瑞科技有限公司主营UV能量计、透光率仪、光泽度仪、涂层测厚仪、内窥镜、水分仪等各类仪器仪表

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